韩国XRF-2000膜厚仪

  XRF-2000镀层测厚仪,丈量镀金,镀银,镀镍,镀锌,镀铜,镀锡,镀钯等

  丈量镀金、涂层、薄膜、元素的成分或者是厚度，其可侦测元素的规模： Ti(22)~U(92 )。

  固定品种巨细：可选0.1，0.2，0.3，0.4，1*0.4mm；其它巨细（选项）

  方位操控：鼠标定位；样品台视窗操控；防呆摄像机监控；2D、3D、随机定位；程控定位；箱门开关Y轴传输

  处理项目：zui大/ zui小值，位移，平均值，标准差，Bar图表R图表及方型图等等

  主营产品：X射线镀层测厚仪,日本共立测验包,电镀测厚仪,X-RAY膜厚仪