掠入射X射线衍射原理、测验办法及其使用

  张吉东研讨员将于线上介绍掠入射X射线衍射的原理和测验办法和数据剖析办法，并结合其在有机高分子薄膜材猜中的典型性成果展现该办法的使用。

  掠入射X射线衍射是一种用于薄膜资料结晶结构表征的高档测验办法，具有能够消除或减小基底信号的影响、增强衍射信号、得到薄膜的三维结晶结构信息等长处，现在被大范围的使用于功用薄膜资料的研讨中。

  期间共享陈述，介绍掠入射X射线衍射的原理和测验办法和数据剖析办法，并结合其在有机高分子薄膜材猜中的典型性成果展现该办法的使用。

  为促进有关人员进一步探究X射线衍射技能发展现状，把握相关使用常识，仪器信息网将于2023年7月18日安排举行第四届X射线衍射技能及使用发展网络研讨会，约请业界技能和使用专家，聚集X射线衍射前沿技能理论、剖析办法、热门使用领域等共享陈述，欢迎各位参会沟通。