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第四届X射线衍射技术及应用进展网络研讨会日程公布报名进行中!

来源:安博电竞中国官方网站网站    发布时间:2024-01-16 14:39:30
X射线衍射技术是通过对物质进行X射线衍射,分析其衍射图谱,获得物质的成分、内部原子或分子的结构或

  X射线衍射技术是通过对物质进行X射线衍射,分析其衍射图谱,获得物质的成分、内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。物质结构分析尽管能够使用中子衍射、红外光谱、穆斯堡尔谱等方法,但X射线衍射技术是最有效、应用最为广泛的手段,应用场景范围已渗透到物理、化学、地球科学、材料科学以及各种工程技术科学中。

  为促进有关人员进一步探索X射线衍射技术发展现状,掌握相关应用知识,仪器信息网将于

  组织召开第四届X射线衍射技术及应用进展网络研讨会,邀请业内技术和应用专家,聚焦X射线衍射前沿技术理论、分析方法、热点应用领域等分享报告。

  报告摘要:原位X射线衍射结构表征技术,即在样品上加载温度场、电场、力场、磁场等外场,或在样品发生电催化、电化学、光催化等反应时采集X射线衍射信号,该技术能应用在粉末衍射仪、单晶衍射仪、高分辨衍射仪、和二维衍射仪上,通过数据分析,就能够获得材料结构信息与温度、力、电、磁等的关系,电化学、电催化等反应的实时结构变化。本报告对原位X射线衍射技术及相关应用进行介绍。

  报告摘要:自20世纪50年代以来,安东帕在X射线技术领域持续开展研发,1957年推出全球首台商业化实验室SAXS仪器Kratky camera。安东帕延续SAXS的创新精神,凭借着精密加工技术, 成为非环境XRD附件的市场领导者,有着最广泛的产品组合。后相继推出高亮度光源Primux系列,高精度多层膜光学元件和X射线衍射仪。本次报告介绍安东帕全新的自动化多功能粉末X射线仪- XRDynamic 500。这是一款多功能粉末衍射仪,提供全自动的和真空的光学器件以及自动化仪器和样品校准程序,结合了无与伦比的数据质量和最高的测试效率,使初学的人和专家都可以轻松快速地收集高质量地XRD数据。

  报告摘要:掠入射X射线衍射是一种用于薄膜材料结晶结构表征的高级测试方法,具有可以消除或减小基底信号的影响、增强衍射信号、得到薄膜的三维结晶结构信息等优点,目前被大范围的应用于功能薄膜材料的研究中。本报告将介绍掠入射X射线衍射的原理和测试方法和数据分析方法,并结合其在有机高分子薄膜材料中的典型性结果展示该方法的应用。

  报告摘要:布鲁克全新台式XRD-D6 Phaser,突破了台式XRD的限制,对大型落地式仪器发起挑战,拥有与大型设备相同甚至超过大型设备的信号强度;原位变温测试、薄膜掠入射衍射、薄膜反射率、应力测试、织构测试、毛细管透射、甚至PDF测试这些以前只能在大型仪器上实现的功能,如今D6 Phaser都能轻松实现!本报告详细的介绍了布鲁克新款D6 Phaser台式衍射仪的特点和功能。

  报告摘要:在熔融织构法制备超导块材过程中,需要高质量的超导薄膜作为籽晶。具有高过热熔化能力的超导薄膜是这一制备工艺的关键。通过X射线衍射技术,揭示了过热熔化的微观机制,利用该机制成功制备了世界最大的单晶超导块材。

  报告摘要:本报告主要涉及以下内容:X射线的发现;X射线的产生机制-普通X光;X射线的产生机制-同步辐射X光;X射线衍射应用技术;X射线衍射的核心原理;X射线应用举例;X射线残余应力测试技术难点解析。

  报告摘要:晶体结构精修过程本质上是一个不断调整结构模型参数以使结构模型与XRD数据最为吻合的过程,本报告将讲述这一过程背后的数学原理。通过了解相关数学原理,加深对结构精修本质的认识,了解单晶结构精修和Rietveld法粉末衍射结构精修的区别,并正确理解各种结构精修残差因子(R因子)的意义。

  报告摘要:利用粉末X射线衍射仪来分析物相的种类和含量慢慢的变成了材料分析的重要手段之一,本报告主要围绕粉末XRD数据的分析展开,包含XRD数据物相分析的来源、物相鉴别判定的方法和定量分析方法的介绍等。

  报告摘要:2020年版药典通用技术方法0451精确指出单晶X射线衍射技术是检测样品成分与分子立体结构的绝对分析方法,它可独立完成对样品化合物的手性或立体异构体分析、及共晶物质成分组成及比例分析(含结晶水或结晶溶剂、药物不同有效成分等)、纯晶型及共晶物分析(分子排列规律变化)等。粉末X射线衍射法适用于对晶态物质或非晶态物质的定性鉴别与定量分析。常用于固体物质的结晶度定性检查、多晶型种类、晶型纯度、共晶组成、晶型稳定性等分析。报告将结合药物申报过程中的具体实际的要求,重点介绍x射线衍射技术在药品申报过程中的应用。

  报告摘要:X射线衍射技术具备无损、便捷、测量精度高等优点,如今已成为研究人员获得材料晶体结构等信息的重要手段,已大范围的应用于航空航天、地质、医药研发、新能源、化工等领域。在科研表征过程中,应该要依据样品特性及表征目的进行样品制备、仪器参数设置以及数据分析等相关操作。本次报告主要就X射线衍射技术在表征过程中的应用要点、普遍的问题以及解决办法进行介绍。

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