新品 日立剖析仪器推出FT210型X射线荧光测厚仪

  经过推出 FT210 新式XRF镀层测厚仪，日立剖析仪器扩展了其镀层和资料剖析仪器产品系列。

  2023年12月，日立剖析仪器推出FT210型X射线荧光测厚仪和用于增强FT200系列智能镀层剖析功用的最新版FT Connect软件。日立剖析仪器是日立高新技术公司旗下的全资子公司，主要是做剖析和丈量仪器的制作与出售。经过推出 FT210 新式XRF镀层测厚仪，日立剖析仪器扩展了其镀层和资料剖析仪器产品系列。

  此外，推出的 FT210 还包含适用于一切 FT200 系列类型的 FT Connect 软件更新版别，具有用于陈述、创立校准曲线和数据处理的增强可用性功用。新版别 FT Connect 扩展了 FT230 的 RoHS 挑选功用。FT Connect V1.2软件与新仪器和现有仪器兼容。

  FT210 与 FT230 十分类似，具有经过削减设置丈量和处理数据所需的真心来进步生产率的功用。为加快剖析设置，FT200 系列装备新式超大的样品视图、广视角相机、主动对焦和主动挨近功用，以及名为“Find My Part™ （查找我的样品）”的智能辨认功用，该功用可主动辨认待测的特定测点并挑选正确的剖析办法。

  日立剖析仪器镀层剖析产品司理 Matt Kreiner 表明：“FT210 使咱们的客户能够为自己的镀层应用领域挑选抱负的探测器。因为引进新的软件功用，咱们不断对操作员与 XRF 镀层剖析仪的交互方法来进行立异，经过简化设置和削减犯错的可能性来添加测验量。运用 FT210 或 FT230，XRF 一切者可协助操作员每天节约长达45分钟的真心，以专心于增值使命或添加测验量。”

  *运用“Find My Part™ （查找我的样品）”的5点测验程序的设置真心从73秒削减到19秒™，这样每次测验可节约54秒，每天可节约45分钟（50次测验）。

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