XRF根本介绍

  在检测剖析环节中，需要对物质成分剖析时，X射线荧光剖析法便是最常用的办法之一。检出限一般可达3-10～10-6克/克(g/g)，对许多元素可测到10-7～10-9g/g，用质子激起时 ，检出可达10-12g/g。这儿就来介绍一下XRF究竟是个什么样的测验办法。

  作为一种比较剖析技能，在较严厉的条件下用一束X射线或低能光线照耀样品资料，致使样品发射特征X射线。这些特征X射线的能量对应于各特定元素，样品中元素的浓度直接决议射线的强度。该发射特征X射线的进程称为X射线荧光或XRF

  （XRF）仪器由激起源（X射线管）和勘探体系构成。X射线管发生入射X射线（一次射线），鼓励被测样品。样品中的每一种元素会放射出的二次X射线，而且不同的元素所放出的二次射线具有特定的能量特性。勘探体系丈量这些放射出来的二次射线的能量及数量。然后，仪器软件将控测体系所搜集的信息转换成样品中的各种元素的品种及含量。使用X射线荧光原理，理论上能够丈量元素周期表中的每一种元素。在实践使用中，有用的元素丈量规模为11号元素（钠Na）到92号元素（铀U）。

  按激起、色散和勘探办法的不同，分为X射线光谱法（波长色散）和X射线能谱法（能量色散）。

  XRF剖析具有强度丈量的再现性好；便于进行无损剖析；剖析速度快；使用场景规模广，剖析规模有原子序数Z≥3的一切元素的特色。除用于物质成分剖析外，还可用于原子的根本性质如氧化数、离子电荷、电负性和化学键等的研讨。

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